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    DWDM并行掃描一拖四測試系統

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    產品功能介紹

    1. 支持不同類型的DWDM/AWG模塊(器件)以及100G Lan WDM器件的掃描和PDL測試,參數設置靈活,界面可視化、操作非常簡便。

    2. 支持多工位對可調光源進行實時并行共享掃描測試,工位之間互不干擾,無需排隊等待。

    3. 自動計算ITU IL、Min IL、Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、CWL(0.5dB,1dB,3dB等)、中心波長與ITU波長的偏移量,Bandwidth、Isolation、Crosstalk等參數。

    4. 自動分析計算各種所需的測試參數結果,自動判定測試結果;所有數量海量保存,自動生成出貨報表。

    測試界面示意圖

    image.png

    系統性能指標 

    參數  

    指標 

    單位

    最小值 

    典型值

    最大值

    工作波長 

    1260


    1620

    nm

    測試指標

    ITU IL/Min IL/Max IL/PDL/Ripple/TDL/CWL/Bandwidth/Isolation


    插損(IL)不確定度 

    ±0.05(光纖熔接測試)

    dB

    ±0.1(連接頭測試)

    測量模式

    TLS掃描/單功率計點測                                                     


    單通道掃描時間

    6-10

    S

    單點PDL純測時間


    3-5

    S

     

    方案配置

    序號          

    名稱、規格及描述                                                                  

    備注                        

    1

    可調光源,支持各種品牌的可調光源(帶掃描功能)


    2

    高速功率計


    3

    光開關:1X2,1X4機械式測試級光開關

    重復性≤0.01dB 

    4

    偏振控制器:GM8015-C, GT303-5


    5

    測試系統光路主機

    定制 


    測試工控電腦



    GPIB  card,GPIB cablePCI-GPIB, GPIB-US-HS



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