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    CWDM4/LWDM掃描測試系統

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    功能介紹

    1. 支持Bar條測試,可與自動化耦合握手,耦合對光完成之后自動進行掃描測試。

    2. 支持不同類型的CWDM4(MUX和DEMUX)以及100G Lan WDM器件的掃描和全3、帶寬的PDL測試,參數設置靈活,界面可視化、操作非常簡便。

    3. 支持多工位對可調光源進行實時并行共享掃描測試,工位互不干擾,無需排隊等待(行業首創,百分百驗證并有多家客戶成功案例,每個工位掃描時間相同,并且申請了專利)。

    4. 自動計算ITU IL、Min IL、Max IL、IL uniformity、Ripple、PDL、通道帶寬和中心波長(1dB,3dB等)、Isolation、Slope、Crosstalk等參數。

    5. 自動分析計算各種所需的測試參數結果和自動判定測試結果。

    6. 失效參數自動區分并標識,使失效數據一目了然。

    7. 系統軟件兼容各種可調光源(Agilent,santec,uc等)和各種帶trigger功能的功率計。

    測試界面示意圖

    image.png

    系統性能指標  

    參數

    指標

    單位

    最小值 

    典型值 

    最大值 

    工作波長

    1260


    1360

    nm

    測試指標

    IL/RIPPLE/PDL/ADJ/NADJ/CWL/BW/TDL/CROSSTALK


    插  損

    ±0.1(連接頭測試)

    db

    不確定度

    ±0.1 (connector test)

    測量模式

    可 調光源+高速功率計


    可測產品類型

    CWDM4(MUX/DEMUX),LAN-WDM,AWG



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